老化在电子产品等行业是一个稳定产品质量的制程，是所谓的“正能量”。当然，一般生活中说到“老化”，*是指产品在环境中性能、耐候性变坏的意思，相当“劣化”。所以，劣化*是产品老化后性能下降的统称，有时候也叫“老化”了，纯属“负能量”称呼。
老化是一种试验，用来筛选或排除少量因制造失常而导致固有缺陷或缺陷的设备，而这些缺陷会引发和时间和应力相关的故障。
老化也通常指高分子材料、电子产品等一个在高温带载环境下的生产工序，意在通过预定的环境：比如：高温（45~70℃）、通电（直流、交流）而运行或者置于期间，观察、观测其物化性质变化的工艺的统称。比如：导航仪的高温老化，*是在高温老化房中对导航仪施以高温应力，达到质量稳定的目的，不一定是对产品进行破坏性试验，因为这些通过老化后的产品只要不是质量检测出问题了，都是合格的产品。
老化也指高分子材料在加工、贮存和使用过程中，由于受内外因素的综合作用，其性能逐渐变坏，以致于丧失使用价值的现象。老化是一种不可逆的变化，它是高分子材料的通病。但是人们可以通过对高分子老化过程的研究，采取适当的防老化措施，提高材料的耐老化的性能，延缓老化的速率，以达到延长使用寿命的目的。还有“熟化”*是专对彩膜行业“老化”的称呼，具体见我司相关“熟化室”、“熟化房”方面的介绍专题。
劣化指高分子物质性能降低不能复原的变化。 高分子物质受热、光、紫外线、氧、臭氧及各种化学药品作用，会发生变色、龟裂、强度降低等物理或化学性能变化。这些外部条件能引起高分子主链断裂或交联，导致结构变化且性能降低。判断劣化程度多用力学或电性能等各种物理性能变化作为尺度。
电子产品在生产制造时，因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产品的质量问题有两类，**类是产品的性能参数不达标，生产的产品不符合使用要求；第二类是潜在的缺陷，这类缺陷不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露，如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行一千个小时左右才能全部被**（暴露）。显然，对每只元器件测试一千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，例如进行高温功率应力试验，来加速这类缺陷的提早暴露。也*是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力，模拟严酷工作环境，**加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品通过失效浴盆特性初期阶段，进入高可靠的稳定期。